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異物分析-表面殘留物成分篩查

簡要描述:異物分析-表面殘留物成分篩查:廣電計量異物分析是通過對產品在工業生產、運輸、存儲、使用過程中出現的異物雜質或未知物進行成分分析,借此尋找和追蹤異物產生的原因和來源并進而避免異物的產生。

  • 廠商性質:工程商
  • 更新時間:2025-06-13
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詳細介紹

品牌廣電計量測試周期7~10工作日
服務區域全國報告形式電子/紙質報告
報告語言中英文服務形式根據不同檢測需求進行定制服務

服務內容

異物是在生產和應用的各個環節出現的非預期的物質,例如橡膠鞋底有白色固體粉末狀異物;EVA發泡墊內部有白色片狀異物;按摩頭表面有白色粉末狀異物;中片材表面有黑點等,這些異物的產生影響產品的性能、使用及外觀。對于企業而言,欲解決其現象,首先需要知道異物是什么。

廣電計量優選各種先進精密儀器,為企業提供可靠的異物分析測試,提供異物分析報告,可作為產品質量分析與改進的重要參考。

服務范圍

1、異物的有機結構分析

2、異物或材料表面的元素成分分析

3、常見異物的類型

4、產品表面殘留物分析來源;產品表面析出粉末、液體、等成分;產品懷疑發生氧化、腐蝕、外來物;產生生產過程懷疑外來成分引入;微量物質分析

檢測項目與標準

檢測項目

檢測標準

異物的有機物結構分析

表面觀察:主要采用光學顯微鏡觀察(OM)觀察異物在表面還是嵌入在基體材料內

紅外顯微鏡-FTIR、顯微紅外(M)判斷異物主要是有機物還是無機物;

GB/T 6040-2002,GB/T 32199-2015

掃描電子顯微鏡&X射線能譜SEM/EDS;X射線光電子能譜XPS;GB/T 30704-2014

JY/T 010-1996;GB/T 17359-2012

紅外光譜法 GB/T 7764-2017;紅外光譜法 ISO 4650:2012;

ASTM E1252-98(2013);紅外分光光度鑒別法 ASTM D3677-

10(2019)

異物分析

紅外顯微鏡(IR-Microscope)

失效分析

內部方法

儀器分析

物性分析

外觀觀察

定制模擬類測試


服務背景

異物的定義,指的是影響到產品外觀或使用,外來或產品內部的物質。異物的產生原因有很多種,在產品生產使用過程中,產品往往容易被污染、腐蝕、氧化或者由于生產工藝控制不規范或人為疏忽等原因形成或引入異物,增加產品的不良率,對產品的使用性能帶來影響。而生產行業一直以來面臨的難題是如何減少異物的形成及引入。 異物分析便是通過對產品在工業生產、運輸、存儲、使用過程中出現的異物雜質或未知物進行成分分析,借此尋找和追蹤異物產生的原因和來源并進而避免異物的產生。



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